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分享！x射线镀层测厚仪的使用规定
点击次数：489 更新时间：2023-03-13
X射线镀层测厚仪
已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
1、基体金属特性：
对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
2、基体金属厚度：
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
3、边缘效应：
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
4、曲率：
不应在试件的弯曲表面上测量。
5、读数次数：
通常由于仪器的每次读数并不相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
6、表面清洁度：
测量前，应清洁表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
