产品展示
XRF2000测厚仪及元素分析仪的详细资料:
Micro Pioneer XRF-2000R
X光镀层测厚仪及ROHS原素分析仪
是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,其物点为:高分辨率,固态探测器; 分析有害物质,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用; 测量多层镀层或锡铅成分分析;电镀溶液分析;定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;性价比*的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器
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