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韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪/X-RAY膜厚仪的详细资料:
韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪/X-RAY膜厚仪
原装*韩国Micropioneer微先锋
主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等
XRF-2020测厚仪配置全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
仪器空纳检测样品高度3cm 12cm,长宽55cm
镀层厚度测试范围:0.03-35um
可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
测量时间:10-30秒
韩国Micro Pioneer XRF-2020镀层测厚仪测试范围
镀金:0.03-6um
镀钯:0.03-6um
镀镍:0.5-30um
镀锡:0.3-50um
镀银:0.1-50um
镀铬:0.5-30um
镀铜:0.5-30um
镀锌:0.5-30um
镀锌镍合金:0.5-30um
韩国先锋XRF-2020测厚仪应用:
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
可测量镀金,镀银.镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等
可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度
韩国XRF-2020型号规格
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg
韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪/X-RAY膜厚仪
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