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产品名称:X射线镀层测仪X-RAY膜厚测试仪

产品型号:

产品报价:

产品特点:XRF-2020电镀膜厚测量仪韩国测厚仪
检测电子电镀,化学电镀层厚度,
测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层
X射线镀层测仪X-RAY膜厚测试仪

X射线镀层测仪X-RAY膜厚测试仪的详细资料:

X射线镀层测仪X-RAY膜厚测试仪

XRF-2020韩国测厚仪

提供镀层厚度测量,功能,快速无损测量。

只需数秒钟便能非破坏性测量电镀层膜厚

测量:

单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层。

全自动样品室,适合不同大小的样品,功能实用

准确性高,广泛应用五金电镀,连接器,半导体端子等行业。

XRF-2020L型测厚仪或H型

功能特点:

XRF-2002膜厚仪X射线荧光技术,该技术已经被证实并且得到广泛应用

可在建立测量曲线存储的情况下提供易于操作、快速和无损的电镀膜厚测量。


范围包括从元素周期表中的Ti 22到 U92


XRF-2020具有大小不同的样品舱。


产品功能:


1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材!

1. 镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金,铬,锌镍合金等。

2. 镀层层数:可测5层。

3. 测量产品位置尺寸:标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)

4. 测量时间:通常15秒。

5. H型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。

6 L型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。

7. 测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。

8. 可测厚度范围:通常0.01微米到60微米,视样品组成和镀层结构而定。


产品参数:

X射线光管 钨靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm

高电压 50千伏(1毫安)可根据软件控制优化

探测器 高分辨气体正比计数探测器

准直器 单一固定准直器直径0.2mm(可选或订制其他规格)

全自样品台,自动雷射对焦


功能应用:


检测电子电镀,五金电镀,PCB板,LED支架半导体连接器等电镀层厚度。


测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料

镀银测量范围0.1-50um

镀镍测量范围0.5-30um

镀铜测量范围0.5-30um

镀锡测量范围0.5-50um

镀金测量范围0.03-6um

镀锌测量范围1-30um

锌镍合金测量范围1-25um

镀铬测量范围0.5-25um


仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量


多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm


可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换



X射线镀层测仪X-RAY膜厚测试仪

X射线镀层测仪X-RAY膜厚测试仪


电镀膜厚仪型号功能XRF-2020测厚仪规格

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg


X射线镀层测仪X-RAY膜厚测试仪







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